Приставки зеркального отражения ПЗО10, ПЗО30, ПЗО45, ПЗО80
Цена: по запросу
Назначение
Приставки зеркального отражения ПЗО10, ПЗО30, ПЗО45, ПЗО80 предназначены для исследования однородных образцов, имеющих отражающие поверхности, а также тонких пленок материалов, нанесенных на такие поверхности.
Приставки зеркального отражения ПЗО10, ПЗО30, ПЗО45, ПЗО80 обеспечивают неразрушающий контроль поверхностей и покрытий без пробоподготовки.
Приставки зеркального отражения ПЗО10, ПЗО30, ПЗО45, ПЗО80 предназначены для идентификации образца, контроля качества покрытий, анализа монослоев и измерения толщины пленок.
Приставки зеркального отражения ПЗО10. Технические характеристики
Приставки зеркального отражения ПЗО30, ПЗО45. Технические характеристики
Приставки зеркального отражения ПЗО80. Технические характеристики
Приставки зеркального отражения ПЗО10
Приставка зеркального отражения ПЗО10 предназначена для измерения отражающей способности твердых образцов и анализа покрытий методом отражения с углом падения, близким к нормальному. С помощью этой приставки можно определять отражающую способность оптических элементов, антибликовых покрытий и пр.
Приставка устанавливается в кюветное отделение спектрометра ФСМ. Образец размещается на верхней наружной стороне приставки исследуемой поверхностью вниз. Система зеркал приставки направляет пучок ИК-излучения на поверхность образца и передает отраженные этой поверхностью лучи на детектор спектрометра. Программа FSpec обрабатывает результаты. Зеркало сравнения поставляется для базового измерения и настройки приставки.
Преимущества
- измерение отраженного излучения для угла падения, близкого к нормальному,
- фиксированный угол падения 10°,
- простота установки в прибор,
- отсутствие пробоподготовки,
- удобное расположение образца.
Приставки зеркального отражения ПЗО30, ПЗО45
Приставки зеркального отражения ПЗО30 и ПЗО45 предназначены для рутинных измерений образцов, имеющих покрытие в микронном диапазоне: для идентификации покрытий и определения их толщины.
Зеркальное отражение, полученное для сравнительно тонких пленок на отражающей подложке и измеренное для угла падения, близкого к нормальному, обычно является высокоточным и дает спектры, очень похожие на спектры пропускания.
Приставка устанавливается в кюветное отделение спектрометра ФСМ. Образец размещается на верхней наружной стороне приставки исследуемой поверхностью вниз. Система зеркал приставки направляет пучок ИК-излучения на поверхность образца и передает отраженные этой поверхностью лучи на детектор спектрометра. Программа FSpec обрабатывает результаты. Зеркало сравнения поставляется в комплекте для базового измерения и настройки приставки.
Преимущества:
- измерение отраженного излучения для угла падения, близкого к нормальному,
- фиксированные углы падения — соответственно 30° и 45°,
- простота установки в прибор,
- отсутствие пробоподготовки,
- удобное расположение образца.
Приставки зеркального отражения ПЗО80
Приставка со «скользящим» углом падения луча 80° применяется для измерения очень тонких покрытий, имеющих толщину в нанометровом диапазоне, и для исследования мономолекулярных слоёв.
Для очень тонких покрытий спектральные измерения методом «скользящего» угла являются более чувствительными, чем измерения при углах падения, близких к нормальному. Это связано с увеличением длины пути луча через покрытие при увеличении угла падения.
Приставка устанавливается в кюветное отделение спектрометра ФСМ. Образец размещается на верхней наружной стороне приставки исследуемой поверхностью вниз. Система зеркал приставки направляет пучок ИК-излучения на поверхность образца и передает отраженные этой поверхностью лучи на детектор спектрометра. Программа FSpec обрабатывает результаты. Зеркало сравнения поставляется в комплекте для базового измерения и настройки приставки.
Преимущества:
- измерение отраженного излучения методом «скользящего угла»,
- фиксированный угол падения 80°,
- простота установки в прибор,
- отсутствие пробоподготовки,
- удобное расположение образца.